为您服务

一、仪器配置

实验室配备多台场发射扫描电子显微镜，型号涵盖Hitachi S4800、ZEISS SIGMA HD、FEI Nova450、FEI Verios 460、JEOL JSM-7800F及JEOL JSM-7001F。设备性能覆盖高分辨成像与微区成分分析，可满足不同材料体系的表征需求。

二、测试项目

可开展微观形貌观察（二次电子/背散射电子成像）、定点能谱点分析（点扫）、线性元素分布扫描（线扫）以及面分布元素成像（mapping）。值得注意的是，无论样品是否具有磁性（非磁、弱磁、强磁），均可依据实际情况尝试拍摄。

三、样品制备说明

粉末、液体、薄膜及块状样品均可接收测试：

· 粉末样品：常规送样量约为10 mg。常规方式为直接将粉末粘附于导电胶上；如需溶剂分散后制样，请提前备注。

· 液体样品：实验室人员将根据样品性质随机选择滴加于导电胶、硅片或铝箔基底上，若有特定基底要求，请提前说明。

· 薄膜或块体样品：请清晰标注测试面；如需观察截面形貌，需自行制备截面或提前沟通，由工程师协助处理。

四、通用样品要求

本服务主要面向材料类样品（生物类样品需另行沟通）。所有送检样品须满足无毒、无放射性、充分干燥、无污染物、热稳定性良好及耐电子束辐照等基本条件。

导电性处理

对于导电性不佳或完全不导电的样品，建议实施喷金处理以增加表面导电性，默认喷金时长为50秒。若需延长喷金时间或改喷碳层，请在测试前明确告知。

磁性样品特别说明

磁性颗粒易受磁场吸引而吸附至电镜极靴，原则上扫描电镜及透射电镜均不建议测试磁性材料。但由于不同仪器状态与工程师经验存在差异，是否可测需结合具体情况进行评估。因此，送样时务必如实申报样品是否含磁及其磁性强弱。为便于归类，含铁、钴、镍元素者均视为磁性样品；能被普通磁铁吸起者定义为强磁，不能被吸起者定义为弱磁。

补充提示：磁性材料包含硬磁与软磁两类。部分材料在常规状态下不显示明显磁性，但在外加磁场、加热或机械作用下可能发生磁化，测试前需充分评估其潜在风险。

一、仪器配置

实验室配备FEI Tecnai G2 F20（TF20）及JEOL JEM-2100F两款场发射透射电子显微镜，具备高分辨成像与微区分析能力，适用于纳米尺度材料的形貌与结构表征。

二、测试项目

可开展项目包括明场/暗场形貌观察、点能谱分析、线扫描元素分布、面扫描元素成像（mapping）及选区电子衍射（SAED）。各类磁性和非磁性样品（包括强磁、弱磁）均可依据实际情况进行拍摄。

三、样品状态与制备

粉末及液体样品可直接制备测试；薄膜、块体等致密材料无法直接观察，如需测试，须提前采用离子减薄、双喷电解、聚焦离子束（FIB）或超薄切片等方法制样，并提前与工作人员沟通确认。

四、样品成分限制

本说明适用于材料类样品，生物类样品处理方式不同，需另行沟通。样品须满足以下安全性与稳定性条件：

· 安全性：样品须无毒、无放射性。

· 有机物含量：有机成分在高能电子束下易分解，拍摄过程中可能碎裂并污染镜筒。如需测试有机物样品，务必提前与测试人员确认可行性。含有机物样品无法进行mapping扫描，预约时请勿选择该选项。

· 磁性评估：磁性颗粒因易被吸附至极靴，原则上透射电镜不建议测试磁性样品。由于不同设备状态与工程师经验存在差异，预约时请务必如实申报样品是否含磁及其强弱程度。磁性定义如下：含铁、钴、镍等元素者为磁性样品；硬磁与软磁材料均属此类，部分材料常规下不显磁性，但在磁场或加热条件下可能被磁化，同样视为磁性样品。强磁指可被普通磁铁吸起者，弱磁指不可被磁铁吸起但含上述元素者。

五、粉末样品制备指南

以粉末样品为例，常规流程为：选用合适溶剂配制分散液，辅以超声处理以防止团聚，将分散液滴加至铜网承载膜上，红外灯下烘干溶剂后上机观察。液体样品可直接稀释后滴网。

鉴于测试人员不熟悉具体样品特性，以下关键制样参数需由送样方明确提供：

· 溶剂选择：常用溶剂为无水乙醇，其次为去离子水（挥发迅速且不残留痕迹）。若需使用甲苯、丙酮等特殊溶剂，请自带并提前说明，此类溶剂易在碳膜上留下残留印记。

· 浓度控制：测试人员通常每次滴加两滴（浓度未知）。若期望单个视野内观察到数十个颗粒，请提供建议浓度或参考样，否则需反复尝试，建议先拍摄低倍图像辅助判断浓度是否适宜。

· 超声时间：不同样品对超声敏感度差异显著——部分团聚严重的样品需延长超声时间，而部分纳米颗粒长时间超声可能结构破坏。制样时默认超声时间为5 min，如有特殊要求请提前备注。

· 载网选型：常规使用铜网、超薄碳膜或微栅。如需钼网、金网等特殊载网，请自备并提前声明。一般形貌观察选用普通铜网；高分辨晶格像推荐使用超薄碳膜或微栅。片状或大于几十纳米的颗粒如需高分辨，可使用微栅（中间镂空无衬底）；而量子点或小于10 nm的小颗粒，须用超薄碳膜，但衬度相对较弱。

· mapping特殊要求：若需对碳元素进行mapping，必须使用微栅（因其骨架含碳膜支撑）。需注意，铜网、超薄碳膜及微栅均含铜元素，若颗粒恰好位于载网骨架上，mapping结果会包含铜信号，此时建议改用钼网，但普通钼网高分辨成像质量有限。